Cloud Reliability Assessment For Electronics（简称：CRAFE），由蓝威数值(珠海)科技有限公司首席科学家、北京航空航天大学可靠性与系统工程学院康锐教授主持设计，面向航空、航天、汽车、轨道交通、核电、电子通信、家电等各个工业领域，支持用户基于热分析、振动分析结果计算电子产品的确信可靠度、开展故障模式、机理与影响分析(FMMEA)以及优化设计和加速试验设计，对电子产品可靠性分析工作提供完整的综合解决方案
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