随着半导体工艺技术节点的日益成熟和复杂，在芯片设计过程中根据需要提供各种复杂的标准单元库。多种库之间的一致性和有效性必须得到保证以消除不必要的设计延迟。 LibWiz为标准单元库不同PVT组合之间的趋势分析提供了一个解决方案，以确保完整性。LibWiz基于分析结果还支持生成芯片设计者所需要的数据手册。此外，LibWiz支持从完全定制的物理布局设计中无缝生成简化版图从而降低设计成本。 标准单元库中包含Verilog HDL、OASIS（GDS-II）、SPICE、Liberty和LEF，确保库中信息的一致性至关重要。LibWiz采用交叉检查方法，在每个单元库中提取常用主要元素并检查库之间的一致性。 LibWiz支持检查所有库的形式语法和语义，还支持顺序过程来检查功能一致性及每个Cell的属性，如面积、管脚列表、管脚属性如管脚方向，时序弧(Timing Arc)等。上述分析结果，LibWiz提供了友好的图形用户界面环境，具有交叉探测功能，并生成html、pdf和txt格式的文件方便检查分析。
随着半导体工艺技术节点的日益成熟和复杂，在芯片设计过程中根据需要提供各种复杂的标准单元库。多种库之间的一致性和有效性必须得到保证以消除不必要的设计延迟。 LibWiz为标准单元库不同PVT组合之间的趋势分析提供了一个解决方案，以确保完整性。LibWiz基于分析结果还支持生成芯片设计者所需要的数据手册。此外，LibWiz支持从完全定制的物理布局设计中无缝生成简化版图从而降低设计成本。 标准单元库中包含Verilog HDL、OASIS（GDS-II）、SPICE、Liberty和LEF，确保库中信息的一致性至关重要。LibWiz采用交叉检查方法，在每个单元库中提取常用主要元素并检查库之间的一致性。 LibWiz支持检查所有库的形式语法和语义，还支持顺序过程来检查功能一致性及每个Cell的属性，如面积、管脚列表、管脚属性如管脚方向，时序弧(Timing Arc)等。上述分析结果，LibWiz提供了友好的图形用户界面环境，具有交叉探测功能，并生成html、pdf和txt格式的文件方便检查分析。