PowerSI可以为IC封装提供快速准确的通用频域电磁场分析,如S参数、Z参数的模型提取,空间模式下的噪声耦合分析,EMC/EMI分析,谐振模式分析,走线阻抗和耦合检查等。从而有助于解决高速电路设计中日益突出的各种PI和SI问题:如信号和电源网络布线质量的定量分析和耦合分析,电源平面的噪声分布和去耦电容的放置,封装的电磁辐射,封装结构中可能存在的谐振模式,以及走线的整体阻抗检查和耦合分析等。PowerSI可以在布局布线前用于创建PI和SI的布线规范,也可以在布局布线后用于发现或改善潜在的设计风险。